1. Репозиторий Полоцкого государственного университета имени Евфросинии Полоцкой
  2. Периодические издания Полоцкого государственного университета имени Евфросинии Полоцкой
  3. Серия C. Фундаментальные науки. ISSN 2710-4230 (Online)
  4. 2013, № 12
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://elib.psu.by/handle/123456789/1156
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorХарченко, А. А.-
dc.contributor.authorБринкевич, Д. И.-
dc.contributor.authorБринкевич, С. Д.-
dc.contributor.authorВабищевич, С. А.-
dc.contributor.authorВабищевич, Н. В.-
dc.contributor.authorЛукашевич, М. Г.-
dc.contributor.authorПросолович, В. С.-
dc.contributor.authorОджаев, В. Б.-
dc.date.accessioned2014-02-03T12:50:15Z-
dc.date.available2014-02-03T12:50:15Z-
dc.date.issued2013-
dc.identifier.citationВестник Полоцкого государственного университета. Сер. C, Фундаментальные науки. - 2013. - № 12. - С. 83-90.ru_RU
dc.identifier.urihttps://elib.psu.by/handle/123456789/1156-
dc.descriptionINVESTIGATION OF POLIMERS SURFACE MODIFIED BY IRRADIATION A. KHARCHENKO, D. BRINKEVICH, S. BRINKEVICH, S. VABISHCHEVICH, N. VABISHCHEVICH, M. LUKASHEVICH, V. PROSOLOVICH, V. ODZHAEV The modification of polyimide, polyetileneterephtalate and polyetheretherketone films surface at the γ-irradiation and Ni+, Ag+, Au+, Fe+ and B+ 30…100 keV ions implantation in the fluence range 1×1015… 1,5×1017 cm–2 have been investigated by the atomic force microscopy. The formation of single cone off with height up to 80 nm and diameters up to 400 nm on the polymer films surface was observed at low implantation doze. Their formation is due to the predominant localization of radiation-chemical processes near the defect structure (the interface) polymer. The formation of these defects outside the implantation range is caused by the transfer of excitation and/ or migration of holes from the field ion track. А.А. ХАРЧЕНКО, канд. физ.-мат. наук Д.И. БРИНКЕВИЧ, канд. хим. наук С.Д. БРИНКЕВИЧ (Белорусский государственный университет, Минск); канд. физ.-мат. наук, доц. С.А. ВАБИЩЕВИЧ, Н.В. ВАБИЩЕВИЧ (Полоцкий государственный университет); канд. физ.-мат. наук, доц. М.Г. ЛУКАШЕВИЧ, канд. физ.-мат. наук В.С. ПРОСОЛОВИЧ, д-р физ.-мат. наук, проф. В.Б. ОДЖАЕВ (Белорусский государственный университет, Минск)ru_RU
dc.description.abstractМетодом атомно-силовой микроскопии исследована модификация поверхности пленок полиимида, полиэтилентерефталата и полиэфирэфиркетона при γ-облучении и имплантации ионами Ni+, Ag+, Ar+, Fe+ и B+ с энергиями 30…100 кэВ в интервале доз 1×1015…1,5×1017 cм–2. Обнаружено формирование при низких дозах облучения конусообразных структур высотой до 80 нм и диаметром в основании до 400 нм, хаотично расположенных на поверхности полимерных пленок. Их образование обусловлено преимущественной локализацией радиационно-химических процессов вблизи дефектов структуры (границы раздела фаз) полимера. Формирование указанных дефектов за пределами зоны имплантации обусловлено переносом возбуждения и/или миграцией дырок из области трека иона.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherПолоцкий государственный университетru_RU
dc.relation.ispartofВеснік Полацкага дзяржаўнага ўніверсітэта. Серыя C, Фундаментальныя навукіbe_BE
dc.relation.ispartofHerald of Polotsk State University. Series C, Fundamental sciencesen_EN
dc.relation.ispartofВестник Полоцкого государственного университета. Серия C, Фундаментальные наукиru_RU
dc.relation.ispartofseriesСерия C, Фундаментальные науки;2013. - № 12-
dc.rightsopen accessru_RU
dc.subjectХимияru_RU
dc.subjectполимерыru_RU
dc.subjectЭнергетикаru_RU
dc.subjectПолупроводниковые материалы и изделияru_RU
dc.titleИсследование поверхности полимеров модифицированной радиационной обработкойru_RU
dc.typeArticleru_RU
Располагается в коллекциях:2013, № 12

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
83-90.pdf957.79 kBAdobe PDFЭскиз
Просмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Порекомендовать ресурс Google Scholar


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.