Please use this identifier to cite or link to this item: http://elib.psu.by:8080/handle/123456789/20344
Title: Сканирование поверхностей твердотельных структур и нефтяных диспесных систем методом атомно-силовой микроскопии
Authors: Васюков, А. В.
Вабищевич, С. А.
Криштопа, В. А.
Keywords: Государственный рубрикатор НТИ - ВИНИТИ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Атомно-силовая микроскопия
Шероховатость
Морфология поверхности
Фоторезист
Гудрон
Нефтяной кокс
Наночастицы
Монокристаллы
Металлы
Atomic force microscope
Surface morphology
Nanoparticle dispersions
Metals
Issue Date: Mar-2017
Publisher: Полоцкий государственный университет
Citation: Вестник Полоцкого государственного университета. Серия C, Фундаментальные науки. - 2017. - № 4. - C. 52-56
Series/Report no.: Серия C, Фундаментальные науки;2017. - № 4
Abstract: Работы, выполненные с помощью атомно-силового микроскопа NT-207, показали большие возможности исследования поверхности веществ методами сканирующей зондовой микроскопии. Атомно-силовая микроскопия может применяться для исследования поверхности веществ в широком диапазоне: от нефтяных дисперсных систем (гудрон, битум) до поверхности любых твердотельных структур. Атомно-силовой микроскоп NT-207 позволяет измерять шероховатость исследуемой площади поверхности, изучать рельеф поверхности, измерять размеры кластеров и наночастиц, определять физико-механические свойства материала.=The work carried out using an atomic force microscope the NT-207 demonstrated broad research opportunities surface materials using scanning probe microscopy. Atomic force microscopy can be used to study the surface of the materials in a wide range - from the oil disperse systems (tar, bitumen) to the surface of any solidstate structures. The atomic force microscope is the NT-207 allows you to measure the roughness of the surface area of study, studying topography, measure the size of clusters and nanoparticles, to determine physicalmechanical properties of material.
Description: SCANNING SURFACES SOLID STRUCTURES AND OIL-WAIST VAR SYSTEMS BY ATOMIC FORCE MICROSCOPY A. VASUKOV, S. VABISHCHEVICH, V. KRISHTOPA
URI: http://elib.psu.by:8080/handle/123456789/20344
ISSN: 2070-1624
Appears in Collections:2017, № 4

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Васюков_2017-4.pdf595.74 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.