<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<feed xmlns="http://www.w3.org/2005/Atom" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/">
  <title>DSpace Collection:</title>
  <link rel="alternate" href="https://elib.psu.by/handle/123456789/45948" />
  <subtitle />
  <id>https://elib.psu.by/handle/123456789/45948</id>
  <updated>2026-05-01T08:06:38Z</updated>
  <dc:date>2026-05-01T08:06:38Z</dc:date>
  <entry>
    <title>Инфракрасная Фурье-спектроскопия диффузного отражения пленок негативных фоторезистов серии AZ nLOF на монокристаллическом кремнии</title>
    <link rel="alternate" href="https://elib.psu.by/handle/123456789/45954" />
    <author>
      <name>Бринкевич, Д. И.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Просолович, В. С.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Колос, В. В.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Зубова, О. А.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Вабищевич, С. А.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Brinkevich, D.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Prosolovich, V.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Kolos, V.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Zubova, O.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Vabishchevich, S.</name>
    </author>
    <id>https://elib.psu.by/handle/123456789/45954</id>
    <updated>2024-11-21T06:41:49Z</updated>
    <published>2024-01-01T00:00:00Z</published>
    <summary type="text">Title: Инфракрасная Фурье-спектроскопия диффузного отражения пленок негативных фоторезистов серии AZ nLOF на монокристаллическом кремнии
Authors: Бринкевич, Д. И.; Просолович, В. С.; Колос, В. В.; Зубова, О. А.; Вабищевич, С. А.; Brinkevich, D.; Prosolovich, V.; Kolos, V.; Zubova, O.; Vabishchevich, S.
Abstract: Методом ИК-Фурье-спектроскопии диффузного отражения исследованы пленки негативных фоторезистов (ФР) AZ nLOF 2020, AZ nLOF 2070 и AZ nLOF 5510 толщиной 0,95 – 6,1 мкм, нанесенные на поверхность пластин кремния методом центрифугирования. В спектрах диффузного отражения структур фоторезист/Si полосы поглощения наблюдались на фоне интерференционных полос, что позволяет использовать методику для измерения толщины пленки или ее показателя преломления. Наиболее интенсивными в спектрах ФР серии AZ nLOF являются полосы валентных колебаний ароматического кольца, пульсационных колебаний углеродного скелета ароматического кольца, широкая структурированная полоса с несколькими максимумами в диапазоне 1050 – 1270 см–1 и полоса, связанная с СН2-мостиком. Структура спектра поглощения фоторезистов серии AZ nLOF схожа со структурой спектра фенолформальдегидного фоторезиста ФП9120. Показано, что полоса колебаний CH3-групп при 2945 см–1 обусловлена растворителем.</summary>
    <dc:date>2024-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </entry>
  <entry>
    <title>Анализ методов определения абсолютного расстояния до объекта по изображению с одной видеокамеры с использованием нейронных сетей</title>
    <link rel="alternate" href="https://elib.psu.by/handle/123456789/45953" />
    <author>
      <name>Лупенко, Н. Л.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Богуш, Р. П.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Чен, X.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Lupenko, N.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Bohush, R.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Chen, H.</name>
    </author>
    <id>https://elib.psu.by/handle/123456789/45953</id>
    <updated>2024-11-21T06:35:28Z</updated>
    <published>2024-01-01T00:00:00Z</published>
    <summary type="text">Title: Анализ методов определения абсолютного расстояния до объекта по изображению с одной видеокамеры с использованием нейронных сетей
Authors: Лупенко, Н. Л.; Богуш, Р. П.; Чен, X.; Lupenko, N.; Bohush, R.; Chen, H.
Abstract: Рассмотрен ряд подходов для определения расстояния до объекта по изображению, сформированному монокулярной видеокамерой, которые применяют искусственные нейронные сети на различных этапах обработки. Проанализирован метод, основанный на нахождении карты глубины и обнаружении объекта с последующим проецированием его координат на карту глубины. Описан метод, использующий взаимосвязь реального размера определенного класса объекта и его размера на сформированном изображении. Рассмотрен подход, основанный на модификации нейронной сети YOLO, при котором в результирующий дескриптор включается дополнительный вектор, характеризующий расстояние до объекта, а также изменяется функция потерь. Описаны состав и особенности наборов данных, которые используются для обучения нейронных сетей, применяемых в алгоритмах вычисления абсолютного расстояния до объекта по изображению. Представлены результаты оценки эффективности различных подходов, описаны их преимущества и недостатки, а также перспективы применения при решении практических задач.</summary>
    <dc:date>2024-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </entry>
  <entry>
    <title>Прочностные свойства имплантированных ионами сурьмы пленок диазохинон-новолачного фоторезиста ФП9120 на монокристаллическом кремнии</title>
    <link rel="alternate" href="https://elib.psu.by/handle/123456789/45955" />
    <author>
      <name>Вабищевич, С. А.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Вабищевич, Н. В.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Бринкевич, Д. И.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Просолович, В. С.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Vabishchevich, S.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Vabishchevich, N.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Brinkevich, D.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Prosolovich, V.</name>
    </author>
    <id>https://elib.psu.by/handle/123456789/45955</id>
    <updated>2024-11-21T06:40:18Z</updated>
    <published>2024-01-01T00:00:00Z</published>
    <summary type="text">Title: Прочностные свойства имплантированных ионами сурьмы пленок диазохинон-новолачного фоторезиста ФП9120 на монокристаллическом кремнии
Authors: Вабищевич, С. А.; Вабищевич, Н. В.; Бринкевич, Д. И.; Просолович, В. С.; Vabishchevich, S.; Vabishchevich, N.; Brinkevich, D.; Prosolovich, V.
Abstract: Методом индентирования исследована модификация в процессе длительного хранения прочностных свойств имплантированных ионами Sb+ пленок диазохинон-новолачного фоторезиста ФП9120 на монокристаллическом кремнии. Зависимости микротвердости от нагрузки после имплантации были немонотонными, что обусловлено наличием у границы раздела фоторезист/кремний упругих напряжений. При длительном хранении наблюдалась их релаксация, обусловившая исчезновение немонотонности на зависимостях микротвердости от нагрузки. Обнаружено сшивание молекул фенолформальдегидной смолы при длительном хранении. Этот процесс был стимулирован разложением в процессе ионной имплантации диазохинона. После длительного хранения имплантированная фоторезистивная пленка становится менее подверженной упругопластическому восстановлению после снятия нагрузки.</summary>
    <dc:date>2024-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </entry>
  <entry>
    <title>Разработка целевой функции генетического алгоритма для оптимизации массы деталей редуктора при FDM-печати</title>
    <link rel="alternate" href="https://elib.psu.by/handle/123456789/45952" />
    <author>
      <name>Ким, Т. Ю.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Печковский, Е. И.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Печковская, А. В.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Kim, T.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Pechkouski, Yau.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Pechkouskaya, A.</name>
    </author>
    <id>https://elib.psu.by/handle/123456789/45952</id>
    <updated>2024-11-21T06:35:28Z</updated>
    <published>2024-01-01T00:00:00Z</published>
    <summary type="text">Title: Разработка целевой функции генетического алгоритма для оптимизации массы деталей редуктора при FDM-печати
Authors: Ким, Т. Ю.; Печковский, Е. И.; Печковская, А. В.; Kim, T.; Pechkouski, Yau.; Pechkouskaya, A.
Abstract: В настоящее время трехмерная печать стала важным инструментом прототипирования, ускоряющим внедрение новых технических решений. Данная работа посвящена оптимизации массы деталей, изготавливаемых из пластика с помощью FDM-печати. Задача заключается в подборе параметров деталей таким образом, чтобы оптимизировать массу комплектующих и, соответственно, расход пластика в процессе печати. Для этой цели используются генетические алгоритмы (ГА) и компьютерное моделирование. Авторами разработана целевая функция, минимизирующая массу компонентов редуктора, и приведены окончательные оптимальные решения проверочных расчетов передачи на контактную прочность, выносливость при изгибе и прочность вала, а также на статическую прочность и контактную прочность рассчитанные с помощью ГА. Метод, предложенный в статье, иллюстрируется на примере оптимизации массы зубчатых колес для цилиндрической зубчатой передачи.</summary>
    <dc:date>2024-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </entry>
</feed>

