<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<rdf:RDF xmlns:rdf="http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#" xmlns="http://purl.org/rss/1.0/" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/">
  <channel rdf:about="https://elib.psu.by/handle/123456789/38042">
    <title>DSpace Collection: Электронный сборник материалов I Международной научно-практической конференции (Новополоцк, 27–28 октября 2022 г.)</title>
    <link>https://elib.psu.by/handle/123456789/38042</link>
    <description>Электронный сборник материалов I Международной научно-практической конференции (Новополоцк, 27–28 октября 2022 г.)</description>
    <items>
      <rdf:Seq>
        <rdf:li rdf:resource="https://elib.psu.by/handle/123456789/38123" />
        <rdf:li rdf:resource="https://elib.psu.by/handle/123456789/38126" />
        <rdf:li rdf:resource="https://elib.psu.by/handle/123456789/38124" />
        <rdf:li rdf:resource="https://elib.psu.by/handle/123456789/38128" />
      </rdf:Seq>
    </items>
    <dc:date>2026-04-14T20:48:25Z</dc:date>
  </channel>
  <item rdf:about="https://elib.psu.by/handle/123456789/38123">
    <title>К вопросу радиационной стойкости элементной базы. Ячейка «тепловой» памяти</title>
    <link>https://elib.psu.by/handle/123456789/38123</link>
    <description>Title: К вопросу радиационной стойкости элементной базы. Ячейка «тепловой» памяти
Authors: Володина, О. В.; Николаев, В. К.; Корячко, М. В.; Скворцов, А. А.
Abstract: Представленная работа посвящена рассмотрению ячейки «тепловой» памяти, основанной на тепловом принципе сохранения информации. Описан принцип работы элемента «тепловой» памяти, основанный на сохранении бита информации в форме тепла. Из анализа принципа работы в составе динамической памяти компьютерных систем делается вывод о существенном уменьшении количества ошибок, возникающих в результате события флипбита. Рассмотрены причины появления флипбита, описаны механизмы его появления, отмечена частота возникновения флипбитов на кремниевых чипах памяти. Даны типы ошибок, к которым приводит событие флипбита, и возможные способы борьбы с его появлением. Проведен сравнительный анализ влияния излучения на традиционные элементы памяти и ячейку «тепловой» памяти.</description>
    <dc:date>2023-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </item>
  <item rdf:about="https://elib.psu.by/handle/123456789/38126">
    <title>Информационная безопасность в интеллектуальных семантических системах</title>
    <link>https://elib.psu.by/handle/123456789/38126</link>
    <description>Title: Информационная безопасность в интеллектуальных семантических системах
Authors: Чертков, В. М.
Abstract: Развитие искусственного интеллекта обуславливает переход на семантические технологии обработки информации, которые требует формирование новых подходов к обеспечению информационной безопасности таких систем. Статья посвящена обзору подходов и принципов обеспечения безопасности в интеллектуальных системах нового поколения. Приводиться современное состояние обеспечения информационной безопасности в интеллектуальных системах и представлены сформированные основные цели и направления по развитию обеспечения информационной безопасности. Рассмотренные в статье методы обеспечения безопасности информации являются чрезвычайно важными при анализе уровня защищённости интеллектуальных систем нового поколения.</description>
    <dc:date>2023-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </item>
  <item rdf:about="https://elib.psu.by/handle/123456789/38124">
    <title>Методы противодействия угрозам социальной инженерии</title>
    <link>https://elib.psu.by/handle/123456789/38124</link>
    <description>Title: Методы противодействия угрозам социальной инженерии
Authors: Мокеров, В. С.; Белоусова, Е. С.
Abstract: Автором статьи описан личный опыт обнаружения социальной инженерии при использовании социальных сетей. В статье представлены примеры различные типы атак, описаны их особенности применения, способы и методы противодействия им. Были исследованы последствия реализации данных угроз и их влияние на концепцию национальной безопасности.</description>
    <dc:date>2023-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </item>
  <item rdf:about="https://elib.psu.by/handle/123456789/38128">
    <title>Электротепловое разрушение межсоединений поверхности тонкой пленки нитрида кремния на кремнии в технологии устройств нано- и микросистемной техники</title>
    <link>https://elib.psu.by/handle/123456789/38128</link>
    <description>Title: Электротепловое разрушение межсоединений поверхности тонкой пленки нитрида кремния на кремнии в технологии устройств нано- и микросистемной техники
Authors: Корячко, М. В.; Пшонкин, Д. Е.
Abstract: В работе рассматриваются механизмы формирования расплавленных зон в процессе электрического взрыва тонких пленок алюминия на поверхности пленок нитрида кремния. Проведена оценка величины градиента температур вблизи дорожки металлизации, а также характерных времен динамики расплавленных зон под действием температурного градиента. Обнаружено, что после прохождения одиночного импульса тока дорожка системы Al-Si3N4-Si оплавляется без разрывов. Работа выполнена в рамках гранта Президента Российской Федерации для государственной поддержки молодых ученых (проект МК-1156.2021.4).</description>
    <dc:date>2023-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </item>
</rdf:RDF>

