Search


Current filters:
Start a new search
Add filters:

Use filters to refine the search results.


Results 21-30 of 57 (Search time: 0.005 seconds).
Item hits:
Issue DateTitleAuthor(s)
2017Спектры отражения гамма-облученных пленок диазохинон-новолачного фоторезистаВабищевич, С. А.; Вабищевич, Н. В.; Бринкевич, Д. И.; Харченко, А. А.; Лукашевич, М. Г.; Просолович, В. С.; Бринкевич, С. Д.
2015Модификация приповерхностных слоев монокристаллов кремния имплантированных ионами В+ и Р+ в процессе создания полупроводниковых приборов по КМОП технологииБринкевич, Д. И.; Вабищевич, С. А.; Просолович, В. С.; Янковский, Ю. Н.
2018Обращение с водными радиоактивными отходами при производстве радиофармпрепаратов на основе 18FКрот, В. О.; Тугай, О. В.; Бринкевич, Д. И.; Бринкевич, С. Д.; Чиж, Г. В.; Вабищевич, С. А.
2019Радиационно-индуцированные процессы в пленках пиролитического графита, используемых в системе вывода пучка коммерческих циклотроновВабищевич, С. А.; Вабищевич, Н. В.; Бринкевич, Д. И.
2019Автоматизированная система физических измеренийЗмитрович, С. Ю.; Вабищевич, С. А.; Шабанов, Д. Н.
2015Исследование прочностных свойств пленок фоторезиста на кремнии методом склерометрииВабищевич, С. А.; Вабищевич, Н. В.; Бринкевич, Д. И.; Просолович, В. С.; Янковский, Ю. Н.
2018Модификация поверхности пленок полиэтилентерефталата при имплантации высокоэнергетичными ионами инертных газов с удельной энергией 1 МэВ/нуклонГоловчук, В. И.; Бринкевич, Д. И.; Лукашевич, М. Г.; Оджаев, В. Б.; Просолович, В. С.; Харченко, А. А.; Вабищевич, С. А.; Вабищевич, Н. В.
2018Атомно-силовая микроскопия пленок позитивного диазохинонноволачного фоторезиста, имплантированного ионами бораВабищевич, С. А.; Васюков, А. В.; Вабищевич, Н. В.; Бринкевич, Д. И.; Просолович, В. С.
2017Микротвердость пленок полиимида и полиэтилентерефталата, облученных гамма-квантами 60CoБринкевич, Д. И.; Лукашевич, М. Г.; Просолович, В. С.; Харченко, А. А.; Вабищевич, С. А.; Вабищевич, Н. В.
2017Сканирование поверхностей твердотельных структур и нефтяных диспесных систем методом атомно-силовой микроскопииВасюков, А. В.; Вабищевич, С. А.; Криштопа, В. А.