Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.psu.by/handle/123456789/19836
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorМолодечкина, Т. В.-
dc.date.accessioned2017-04-13T12:01:43Z-
dc.date.available2017-04-13T12:01:43Z-
dc.date.issued2004-
dc.identifier.citationМолодечкина Т. В. Формирование легированных оксидов титана термолизом алкоксисоединений для компонентов электронной техники: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук по специальности 05.27.06 – технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники / Т. В. Молодечкина; Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. - Защита сост.03. 06. 2004. - Минск, 2004. - 25 с.ru_RU
dc.identifier.urihttps://elib.psu.by/handle/123456789/19836-
dc.descriptionMolodechkina Tatiana Victorovna Formation of alloyed titanium oxides by thermolysis of alkoxy compounds for components of electronic engineeringru_RU
dc.description.abstractПредложено использование частично замещенных алкоголятов титана для формирования пленок TiO2 термообработкой пленкообразующих растворов. Установлено, что при импульсном отжиге за время 1 – 10 с происходит формирование слоя диоксида титана с равномерным распределением элементов по толщине, который может быть применен в качестве буферного покрытия при формировании микроэлектронных компонентов. Изучен процесс термолиза TiCl2(OC2H5)2 и TiCl2(OC4H9)2 в широком температурном диапазоне. Сделан вывод о большей термической устойчивости дихлородибутилата титана. Показана возможность использования химической модели адгезии для расчета поверхностной энергии диоксида титана на различных подложках. Это позволяет расположить исследованные структуры по убывающей прочности сцепления в следующий ряд: TiO2-Si; TiO2- Fe; TiO2-Cr; TiO2-Ni. Установлено, что восстановление в токе водорода легированного металлами диоксида титана (в количестве 1 – 10 ат. %) приводит к созданию материала, имеющего величину и характер температурной зависимости удельного объемного электрического сопротивления, характерную для полупроводников.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.subjectзоль-гель методru_RU
dc.subjectпленкообразующий растворru_RU
dc.subjectтонкие пленкиru_RU
dc.subjectимпульсный отжигru_RU
dc.subjectалкоксипроизводноеru_RU
dc.subjectтермическое окислениеru_RU
dc.subjectтермолизru_RU
dc.subjectповерхностная энергия покрытияru_RU
dc.subjectsol-gel methodru_RU
dc.subjectfilm-forming solutionru_RU
dc.subjectthin filmsru_RU
dc.subjectalkoxy derivativesru_RU
dc.subjectpulsed annealingru_RU
dc.subjectthermal oxidationru_RU
dc.subjectthermolysisru_RU
dc.subjectcoating surface energyru_RU
dc.subjectalloyed titanium oxidesru_RU
dc.subjectАвтореферат диссертацииru_RU
dc.subject05.27.06 – Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техникиru_RU
dc.titleФормирование легированных оксидов титана термолизом алкоксисоединений для компонентов электронной техники. Автореферат диссертацииru_RU
dc.typeAvtoreferat dissertationsru_RU
dc.identifier.udc621.382 : 621.383-
local.description.annotationUse of partly substituted titanium alcoholates for formation of ТiО2 films by thermal treatment of film-forming solutions is offered. It is determined that at pulsed annealing during 1-10 sec there forms a layer of titanium dioxide with equal distribution of elements according to thickness, which can be applied as a buffer coating at formation of microelectronic components. Thermolysis process ТiСl2 (ОС2H5)2 and ТiСl2(ОС4H9)2 in a wide temperature range is investigated. This allows to draw a conclusion about greater thermal stability of titanium dichlorodibutylate. The possibility of using the chemical model of adhesion for the calculation of titanium dioxide surface energy on various substrates is shown . This allows to set the investigated structures in the following row according to decreasing adhesive strength: ТiO2- Si; ТiO2-Fe; ТiO2-Cr; ТiO2-Ni. It is determined, that restoration of metal-alloyed titanium dioxide in the flow of hydrogen (in quantity of 1-10 atomic percent) leads to the creation of the material which has the amount of specific volume of electric resistance about 25-950 Ohm . mm and temperature dependence of specific volume of electric resistance, characteristic of semiconductors.-
Appears in Collections:Авторефераты диссертаций

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
avtoreferat_Молодечкина_2004.pdf1.12 MBAdobe PDFThumbnail
View/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.