Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.psu.by/handle/123456789/38472
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorВабищевич, С. А.-
dc.contributor.authorВабищевич, Н. В.-
dc.contributor.authorБринкевич, Д. И.-
dc.contributor.authorПросолович, В. С.-
dc.contributor.authorЯнковский, Ю. Н.-
dc.date.accessioned2023-05-17T13:37:13Z-
dc.date.available2023-05-17T13:37:13Z-
dc.date.issued2012-
dc.identifier.citationМикротвердость монокристаллов полупроводниковых материалов / Д. И. Бринкевич, Н. В. Вабищевич, С. А. Вабищевич [и др.] // Материалы и структуры современной электроники : Сборник научных трудов V Международной научной конференции, Минск, 10–11 октября 2012 года / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.]. – Минск: Издательский центр Белорусского государственного университета, 2012. – С. 21-24.ru_RU
dc.identifier.urihttps://elib.psu.by/handle/123456789/38472-
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherМинск : БГУru_RU
dc.titleМикротвердость монокристаллов полупроводниковых материаловru_RU
dc.typeArticleru_RU
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
21-24.pdf262.83 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.