Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elib.psu.by/handle/123456789/47Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Бринкевич, Д. И. | ru |
| dc.contributor.author | Вабищевич, Н. В. | ru |
| dc.contributor.author | Вабищевич, С. А. | ru |
| dc.date.accessioned | 2013-08-09T13:12:24Z | - |
| dc.date.available | 2013-08-09T13:12:24Z | - |
| dc.date.issued | 2012 | - |
| dc.identifier.citation | Вестник Полоцкого государственного университета. Серия C, Фундаментальные науки.- Новополоцк: ПГУ, 2012.- № 4. - С. 77-82. | ru |
| dc.identifier.uri | https://elib.psu.by/handle/123456789/47 | - |
| dc.description | MICROSTRENGTH PROPERTIES OF SILICON SINGLE CRYSTAL RECEIVED FROM THE MELT UNDER THE INFLUENCE OF COMBINED MAGNETIC FIELDS / D. BRINKEVICH, N. VABISCHEVICH, S. VABISCHEVICH / Silicon single crystals received by Czochralski method from the melt under the influence of combined dynamic and steady magnetic fields were investigated by microindtntion method. It is experimentally shown, that microstrengten characteristics of silicon single crystal (microhardness Н, microfragility Z, factor of viscosity of destruction К1С and effective energy of destruction γ) depend on conditions of receipt (parameters of magnetic fields). Essential distinctions of microstrengten properties of the samples which have been cut out from the bottom and top parts of the same ingot are found out. The specified features of microstrengten properties are caused by distinctions in defect-impurity structure of investigated wafers. | en_US |
| dc.description.abstract | Методом микроиндентирования исследованы монокристаллы кремния, полученные по методу Чохральского при наложении на расплав комбинированных переменных и стационарных магнитных полей. Экспериментально показано, что микропрочностные характеристики монокристаллического кремния (микротвердость Н, микрохрупкость Z, коэффициент вязкости разрушения K1С и эффективная энергия разрушения γ) зависят от условий выращивания (наложения магнитных полей). Обнаружены существенные различия микропрочностных свойств образцов, вырезанных из нижних и верхних частей одного и того же слитка. Особенности микропрочностных свойств монокристаллического кремния обусловлены различиями в дефектно-примесном составе исследовавшихся пластин. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | Полоцкий государственный университет | ru_RU |
| dc.relation.ispartof | Веснік Полацкага дзяржаўнага ўніверсітэта. Серыя C, Фундаментальныя навукі | be_BE |
| dc.relation.ispartof | Herald of Polotsk State University. Series C, Fundamental sciences | en_EN |
| dc.relation.ispartof | Вестник Полоцкого государственного университета. Серия C, Фундаментальные науки | ru_RU |
| dc.relation.ispartofseries | Серия C, Фундаментальные науки;2012.- № 4. | ru |
| dc.rights | open access | ru_RU |
| dc.subject | Химия | ru |
| dc.subject | Химические элементы и их соединения | ru |
| dc.subject | Энергетика | ru |
| dc.subject | Полупроводниковые материалы и изделия | ru |
| dc.title | Микропрочностные свойства монокристаллического кремния, выращенного при наложении на расплав сложных электромагнитных полей | ru |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Располагается в коллекциях: | 2012, № 4 | |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 77-82.pdf | 292.65 kB | Adobe PDF |  Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.