Исследование поверхности полимеров модифицированной радиационной обработкой

Abstract

Методом атомно-силовой микроскопии исследована модификация поверхности пленок полиимида, полиэтилентерефталата и полиэфирэфиркетона при γ-облучении и имплантации ионами Ni+, Ag+, Ar+, Fe+ и B+ с энергиями 30…100 кэВ в интервале доз 1×1015…1,5×1017 cм–2. Обнаружено формирование при низких дозах облучения конусообразных структур высотой до 80 нм и диаметром в основании до 400 нм, хаотично расположенных на поверхности полимерных пленок. Их образование обусловлено преимущественной локализацией радиационно-химических процессов вблизи дефектов структуры (границы раздела фаз) полимера. Формирование указанных дефектов за пределами зоны имплантации обусловлено переносом возбуждения и/или миграцией дырок из области трека иона.