Повышение достоверности отбраковки больших интегральных схем со скрытыми дефектами методом понижения питающего напряжения

Белоус, А. И.; Емельянов, В. А.; Сякерский, В. С.

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.psu.by/handle/123456789/26665

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	Белоус, А. И.	-
dc.contributor.author	Емельянов, В. А.	-
dc.contributor.author	Сякерский, В. С.	-
dc.date.accessioned	2021-02-24T12:23:11Z	-
dc.date.available	2021-02-24T12:23:11Z	-
dc.date.issued	2006	-
dc.identifier.citation	Вестник Полоцкого государственного университета. Серия C, Фундаментальные науки. - 2006. - № 10. - C. 117-120.	ru_RU
dc.identifier.issn	2070-1624	-
dc.identifier.uri	https://elib.psu.by/handle/123456789/26665	-
dc.description.abstract	Разработанный метод отбраковки микросхем, содержащих скрытые дефекты, в сравнении с известными позволяет существенно повысить достоверность отбраковки действительно ненадежных микросхем.	ru_RU
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.publisher	Полоцкий государственный университет	ru_RU
dc.relation.ispartof	Веснік Полацкага дзяржаўнага ўніверсітэта. Серыя C, Фундаментальныя навукі	be_BE
dc.relation.ispartof	Herald of Polotsk State University. Series C, Fundamental sciences	en_EN
dc.relation.ispartof	Вестник Полоцкого государственного университета. Серия C, Фундаментальные науки	ru_RU
dc.relation.ispartofseries	Серия C, Фундаментальные науки;2006. - № 10	-
dc.rights	open access	ru_RU
dc.subject	Государственный рубрикатор НТИ - ВИНИТИ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика	ru_RU
dc.title	Повышение достоверности отбраковки больших интегральных схем со скрытыми дефектами методом понижения питающего напряжения	ru_RU
dc.type	Article	ru_RU
dc.identifier.udc	621.3.049.771.14:620.19	-
Appears in Collections:	2006, № 10

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
117-120.pdf		242.65 kB	Adobe PDF	View/Open

Show simple item record Recommend this item Google Scholar