Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elib.psu.by/handle/123456789/26665| Название: | Повышение достоверности отбраковки больших интегральных схем со скрытыми дефектами методом понижения питающего напряжения |
| Авторы: | Белоус, А. И. Емельянов, В. А. Сякерский, В. С. |
| Дата публикации: | 2006 |
| Издатель: | Полоцкий государственный университет |
| Библиографическое описание: | Вестник Полоцкого государственного университета. Серия C, Фундаментальные науки. - 2006. - № 10. - C. 117-120. |
| Аннотация: | Разработанный метод отбраковки микросхем, содержащих скрытые дефекты, в сравнении с известными позволяет существенно повысить достоверность отбраковки действительно ненадежных микросхем. |
| Ключевые слова: | Государственный рубрикатор НТИ - ВИНИТИ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://elib.psu.by/handle/123456789/26665 |
| Права доступа: | open access |
| Располагается в коллекциях: | 2006, № 10 |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 117-120.pdf | 242.65 kB | Adobe PDF |  Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.