Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://elib.psu.by/handle/123456789/26665
Название: Повышение достоверности отбраковки больших интегральных схем со скрытыми дефектами методом понижения питающего напряжения
Авторы: Белоус, А. И.
Емельянов, В. А.
Сякерский, В. С.
Дата публикации: 2006
Издатель: Полоцкий государственный университет
Библиографическое описание: Вестник Полоцкого государственного университета. Серия C, Фундаментальные науки. - 2006. - № 10. - C. 117-120.
Аннотация: Разработанный метод отбраковки микросхем, содержащих скрытые дефекты, в сравнении с известными позволяет существенно повысить достоверность отбраковки действительно ненадежных микросхем.
Ключевые слова: Государственный рубрикатор НТИ - ВИНИТИ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): https://elib.psu.by/handle/123456789/26665
Права доступа: open access
Располагается в коллекциях:2006, № 10

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
117-120.pdf242.65 kBAdobe PDFЭскиз
Просмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.