Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.psu.by/handle/123456789/38468
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorБринкевич, Д. И.-
dc.contributor.authorВабищевич, Н. В.-
dc.contributor.authorВолобуев, В. С.-
dc.contributor.authorЛукашевич, М. Г.-
dc.contributor.authorПросолович, В. С.-
dc.contributor.authorОджаев, В. Б.-
dc.date.accessioned2023-05-17T11:54:27Z-
dc.date.available2023-05-17T11:54:27Z-
dc.date.issued2010-
dc.identifier.citationИсследование методом микроиндентирования имплантированных низкоэнергетичными ионами Sb+ структур фотополимер-кремний / Д. И. Бринкевич, Н. В. Вабищевич, В. С. Волобуев [и др.] // Материалы и структуры современной электроники: сб. науч. тр. IV Междунар. науч. конф., Минск, 23–24 окт. 2010 г. / редкол.: В.Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.].— Минск: Белорусский государственный университет, 2010. – С. 208-211.ru_RU
dc.identifier.urihttps://elib.psu.by/handle/123456789/38468-
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherМинск : БГУru_RU
dc.titleИсследование методом микроиндентирования имплантированных низкоэнергетичными ионами Sb+ структур фотополимер-кремнийru_RU
dc.typeArticleru_RU
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
43-45.pdf544.7 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.