Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.psu.by/handle/123456789/441
Title: | Многоуровневый системный физико-химический, мультифрактальный и вейвлет-анализ изображений структур наноматериалов и их свойств |
Authors: | Витязь, П. А. Хейфец, М. Л. Сенють, В. Т. Колмаков, А. Г. Антипов, В. И. Виноградов, Л. В. |
Issue Date: | 2011 |
Publisher: | Полоцкий государственный университет |
Citation: | Вестник Полоцкого государственного университета. Серия C, Фундаментальные науки: научно-теоретический журнал.- Новополоцк : ПГУ, 2011. - № 4.- С. 14-25. |
Abstract: | Исследование состояний физико-химической системы по элементам диаграмм состояний согласно предложенной топологической модели позволило выявить принципы самоорганизации при образовании структур и фаз. Изучены элементы топологической модели на основе выделения стадий формирования недиссоциированного соединения из диссоциированного с образованием сингулярной точки на диаграмме состояний. Показана со структурно-энергетических позиций целесообразная последовательность этапов развития поверхностей раздела структур, фаз и слоев: рост фрактальных структур поверхности; увеличение числа элементов основы фрактала; усложнение фрактальных меандров; перколяция слоев на поверхности раздела; вырождение фракталов. Рекомендован мультифрактальный подход к количественному описанию структур различной природы, заключающийся в построении меры множества, аппроксимирующего изучаемую структуру. Предложено использовать вейвлет-анализ для описания наноструктур материалов. Определены свойства и параметры вейвлет-анализа, влияющие на описание материалов. |
Keywords: | Общенаучные и междисциплинарные знания методы анализа физико-химический анализ мультифрактальный анализ вейвлет-анализ наноматериалы наноструктуры материалов фрактальная размерность фракталы вейвлеты |
URI: | https://elib.psu.by/handle/123456789/441 |
metadata.dc.rights: | open access |
Appears in Collections: | 2011, № 4 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.