Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.psu.by/handle/123456789/441
Title: Многоуровневый системный физико-химический, мультифрактальный и вейвлет-анализ изображений структур наноматериалов и их свойств
Authors: Витязь, П. А.
Хейфец, М. Л.
Сенють, В. Т.
Колмаков, А. Г.
Антипов, В. И.
Виноградов, Л. В.
Issue Date: 2011
Publisher: Полоцкий государственный университет
Citation: Вестник Полоцкого государственного университета. Серия C, Фундаментальные науки: научно-теоретический журнал.- Новополоцк : ПГУ, 2011. - № 4.- С. 14-25.
Abstract: Исследование состояний физико-химической системы по элементам диаграмм состояний согласно предложенной топологической модели позволило выявить принципы самоорганизации при образовании структур и фаз. Изучены элементы топологической модели на основе выделения стадий формирования недиссоциированного соединения из диссоциированного с образованием сингулярной точки на диаграмме состояний. Показана со структурно-энергетических позиций целесообразная последовательность этапов развития поверхностей раздела структур, фаз и слоев: рост фрактальных структур поверхности; увеличение числа элементов основы фрактала; усложнение фрактальных меандров; перколяция слоев на поверхности раздела; вырождение фракталов. Рекомендован мультифрактальный подход к количественному описанию структур различной природы, заключающийся в построении меры множества, аппроксимирующего изучаемую структуру. Предложено использовать вейвлет-анализ для описания наноструктур материалов. Определены свойства и параметры вейвлет-анализа, влияющие на описание материалов.
Keywords: Общенаучные и междисциплинарные знания
методы анализа
физико-химический анализ
мультифрактальный анализ
вейвлет-анализ
наноматериалы
наноструктуры материалов
фрактальная размерность
фракталы
вейвлеты
URI: https://elib.psu.by/handle/123456789/441
metadata.dc.rights: open access
Appears in Collections:2011, № 4

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
14-25.pdf433.54 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.