Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.psu.by/handle/123456789/24887
Title: Снижение микротвердости монокристаллов антимо-нида индия при низкотемпературном отжиге
Authors: Вабищевич, С. А.
Вабищевич, Н. В.
Бринкевич, Д. И.
Issue Date: 2007
Publisher: Полоцкий государственный университет
Citation: Вестник Полоцкого государственного университета. Серия C, Фундаментальные науки. - 2007. - № 3. - C. 99-102.
Abstract: Представлены результаты исследования влияния термообработок на микротвердость монокристаллов антимонида индия, полученного по методу Чохральского, с нанесенными на обратную сторону пластин пленками Cr, Ta и Gd. Измерения проводились по стандартной методике микроиндентирования со стороны пленок. Установлено, что зависимости микротвердости от нагрузки для исходных пластин имеют вид, характерный для твердых материалов, что свидетельствует о наличии приповерхностного упрочняющего слоя. Показано, что термообработка пластин InSb в диапазоне температур 300…450 ºС приводит к снижению микротвердости приповерхностного слоя. При этом в объеме материала существенного влияния термообработки на прочностные характеристики не было обнаружено. Изменение микротвердости обусловлено формированием в процессе термообработки новых и перестройкой «ростовых» дефектно-примесных комплексов, что в свою очередь приводит к разрушению димеризованных химических связей у поверхности материала. Отмечено, что наилучшей адгезией обладают пленки Gd, отслоения которых не наблюдается как при термообработке, так и при последующем микроиндентировании пластин InSb.
Keywords: Государственный рубрикатор НТИ - ВИНИТИ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
URI: https://elib.psu.by/handle/123456789/24887
Appears in Collections:2007, № 3

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
99-102.pdf543.64 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.