Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.psu.by/handle/123456789/32400
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorАманова, М. А.ru_RU
dc.contributor.authorНавныко, В. Н.ru_RU
dc.contributor.authorШепелевич, В. В.ru_RU
dc.contributor.authorAmanova, M.-
dc.contributor.authorNaunyka, V.-
dc.contributor.authorShepelevich, V.-
dc.date.accessioned2022-06-28T12:24:52Z-
dc.date.available2022-06-28T12:24:52Z-
dc.date.issued2022-
dc.identifier.citationАманова, М. А. Влияние обратного пьезоэлектрического и фотоупругого эффектов на указательную поверхность нормальной составляющей обратного тензора диэлектрической проницаемости кристалла BiTiO / М. А. Аманова, В. Н. Навныко, В. В. Шепелевич // Вестник Полоцкого государственного университета. Серия C, Фундаментальные науки. - 2022. - № 4. - С. 38-42.ru_RU
dc.identifier.urihttps://elib.psu.by/handle/123456789/32400-
dc.description.abstractПостроена и проанализирована указательная поверхность нормальной составляющей изменения компонент обратного тензора диэлектрической проницаемости фоторефрактивного кристалла Bi12TiO20 класса симметрии 23. Определены экстремальные значения указательной поверхности нормальной составляющей для кристалла Bi12TiO20 с записанной фазовой голографической решеткой. Показано, что совместное действие фотоупругого и обратного пьезоэлектрического эффектов приводит к изменению максимальных и минимальных значений нормальной составляющей изменения компонент обратного тензора диэлектрической проницаемости кристалла с волновым вектором голографической решетки, ориентированным вдоль кристаллографического направления [112].-
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherПолоцкий государственный университетru_RU
dc.relation.ispartofВеснік Полацкага дзяржаўнага ўніверсітэта. Серыя C, Фундаментальныя навукіbe_BE
dc.relation.ispartofHerald of Polotsk State University. Series C, Fundamental sciencesen_EN
dc.relation.ispartofВестник Полоцкого государственного университета. Серия C, Фундаментальные наукиru_RU
dc.rightsopen accessru_RU
dc.titleВлияние обратного пьезоэлектрическогои фотоупругого эффектов на указательную поверхность нормальной составляющей обратного тензора диэлектрической проницаемости кристалла BiTiOru_RU
dc.title.alternativeInfluence of Inverse Piezoelectric and Photoelastic Effects on the Index Surface of the Normal Component Inverse Tensor Dielectric Permeability of the Bi12TiO20 Crystal-
dc.typeArticleru_RU
dc.description.alternativeThe index surface of the normal component of variation of the inverse tensor dielectric constant of the photorefractive Bi12TiO20 crystal of 23 symmetry class is constructed and analyzed. The extremal values of the index surface of the normal component for Bi12TiO20 crystal with formed holographic grating are determined. It is shown that the combined action of the photoelastic and inverse piezoelectric effects leads to a change in the maximum and minimum values of the normal component of variation of the inverse tensor dielectric constant of the crystal with the wave vector of the holographic grating oriented along the crystallographic direction [112].-
dc.citation.spage38ru_RU
dc.citation.epage42ru_RU
dc.identifier.doi10.52928/2070-1624-2022-38-4-38-42-
Appears in Collections:2022, № 4

Files in This Item:
File SizeFormat 
38-42.pdf309.03 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.