Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.psu.by/handle/123456789/32400| Title: | Влияние обратного пьезоэлектрическогои фотоупругого эффектов на указательную поверхность нормальной составляющей обратного тензора диэлектрической проницаемости кристалла BiTiO |
| Authors: | Аманова, М. А. Навныко, В. Н. Шепелевич, В. В. Amanova, M. Naunyka, V. Shepelevich, V. |
| Other Titles: | Influence of Inverse Piezoelectric and Photoelastic Effects on the Index Surface of the Normal Component Inverse Tensor Dielectric Permeability of the Bi12TiO20 Crystal |
| Issue Date: | 2022 |
| Publisher: | Полоцкий государственный университет |
| Citation: | Аманова, М. А. Влияние обратного пьезоэлектрического и фотоупругого эффектов на указательную поверхность нормальной составляющей обратного тензора диэлектрической проницаемости кристалла BiTiO / М. А. Аманова, В. Н. Навныко, В. В. Шепелевич // Вестник Полоцкого государственного университета. Серия C, Фундаментальные науки. - 2022. - № 4. - С. 38-42. |
| Abstract: | Построена и проанализирована указательная поверхность нормальной составляющей изменения компонент обратного тензора диэлектрической проницаемости фоторефрактивного кристалла Bi12TiO20 класса симметрии 23. Определены экстремальные значения указательной поверхности нормальной составляющей для кристалла Bi12TiO20 с записанной фазовой голографической решеткой. Показано, что совместное действие фотоупругого и обратного пьезоэлектрического эффектов приводит к изменению максимальных и минимальных значений нормальной составляющей изменения компонент обратного тензора диэлектрической проницаемости кристалла с волновым вектором голографической решетки, ориентированным вдоль кристаллографического направления [112]. |
| URI: | https://elib.psu.by/handle/123456789/32400 |
| metadata.dc.rights: | open access |
| metadata.dc.identifier.doi: | 10.52928/2070-1624-2022-38-4-38-42 |
| Appears in Collections: | 2022, № 4 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.