Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.psu.by/handle/123456789/38472
Title: | Микротвердость монокристаллов полупроводниковых материалов |
Authors: | Вабищевич, С. А. Вабищевич, Н. В. Бринкевич, Д. И. Просолович, В. С. Янковский, Ю. Н. |
Issue Date: | 2012 |
Publisher: | Минск : БГУ |
Citation: | Микротвердость монокристаллов полупроводниковых материалов / Д. И. Бринкевич, Н. В. Вабищевич, С. А. Вабищевич [и др.] // Материалы и структуры современной электроники : Сборник научных трудов V Международной научной конференции, Минск, 10–11 октября 2012 года / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.]. – Минск: Издательский центр Белорусского государственного университета, 2012. – С. 21-24. |
URI: | https://elib.psu.by/handle/123456789/38472 |
Appears in Collections: | Публикации в изданиях Республики Беларусь |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.