Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elib.psu.by/handle/123456789/40433| Название: | Создание универсального алгоритма выявления дефектов полупроводников с использованием технологии компьютерного зрения |
| Авторы: | Ольховская, И. М. |
| Дата публикации: | 2023 |
| Издатель: | Полоцкий государственный университет имени Евфросинии Полоцкой |
| Библиографическое описание: | Ольховская, И. М. Создание универсального алгоритма выявления дефектов полупроводников с использованием технологии компьютерного зрения / И. М. Ольховская // Электронный сборник трудов молодых специалистов Полоцкого государственного университета имени Евфросинии Полоцкой / ред. кол.: Ю. Я. Романовский (пред.) [и др.]. - Новополоцк : Полоцкий государственный университет имени Евфросинии Полоцкой, 2023. – Вып. 50 (120): Промышленность. – С. 38-40. |
| Аннотация: | Рассмотрены вопросы использования компьютерного зрения для обработки изображений, полу- ченных при травлении полупроводников, для определения границ дефектов упаковки и точечных дефек- тов. Создана программа обработки изображений с возможностью дальнейшего использования данных обработки. Результаты работы могут быть применены в материаловедении для автоматизации поис- ка дефектов с помощью камеры. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://elib.psu.by/handle/123456789/40433 |
| Располагается в коллекциях: | Промышленность. Вып. 50 (120). 2023 |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|
| 38-40.pdf | 222.55 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.