Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.psu.by/handle/123456789/40433Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Ольховская, И. М. | ru_RU |
| dc.date.accessioned | 2023-11-21T10:24:47Z | - |
| dc.date.available | 2023-11-21T10:24:47Z | - |
| dc.date.issued | 2023 | |
| dc.identifier.citation | Ольховская, И. М. Создание универсального алгоритма выявления дефектов полупроводников с использованием технологии компьютерного зрения / И. М. Ольховская // Электронный сборник трудов молодых специалистов Полоцкого государственного университета имени Евфросинии Полоцкой / ред. кол.: Ю. Я. Романовский (пред.) [и др.]. - Новополоцк : Полоцкий государственный университет имени Евфросинии Полоцкой, 2023. – Вып. 50 (120): Промышленность. – С. 38-40. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://elib.psu.by/handle/123456789/40433 | - |
| dc.description.abstract | Рассмотрены вопросы использования компьютерного зрения для обработки изображений, полу- ченных при травлении полупроводников, для определения границ дефектов упаковки и точечных дефек- тов. Создана программа обработки изображений с возможностью дальнейшего использования данных обработки. Результаты работы могут быть применены в материаловедении для автоматизации поис- ка дефектов с помощью камеры. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | Полоцкий государственный университет имени Евфросинии Полоцкой | ru_RU |
| dc.title | Создание универсального алгоритма выявления дефектов полупроводников с использованием технологии компьютерного зрения | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| dc.citation.spage | 38 | ru_RU |
| dc.citation.epage | 40 | ru_RU |
| Appears in Collections: | Промышленность. Вып. 50 (120). 2023 | |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.