Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.psu.by/handle/123456789/40433| Title: | Создание универсального алгоритма выявления дефектов полупроводников с использованием технологии компьютерного зрения |
| Authors: | Ольховская, И. М. |
| Issue Date: | 2023 |
| Publisher: | Полоцкий государственный университет имени Евфросинии Полоцкой |
| Citation: | Ольховская, И. М. Создание универсального алгоритма выявления дефектов полупроводников с использованием технологии компьютерного зрения / И. М. Ольховская // Электронный сборник трудов молодых специалистов Полоцкого государственного университета имени Евфросинии Полоцкой / ред. кол.: Ю. Я. Романовский (пред.) [и др.]. - Новополоцк : Полоцкий государственный университет имени Евфросинии Полоцкой, 2023. – Вып. 50 (120): Промышленность. – С. 38-40. |
| Abstract: | Рассмотрены вопросы использования компьютерного зрения для обработки изображений, полу- ченных при травлении полупроводников, для определения границ дефектов упаковки и точечных дефек- тов. Создана программа обработки изображений с возможностью дальнейшего использования данных обработки. Результаты работы могут быть применены в материаловедении для автоматизации поис- ка дефектов с помощью камеры. |
| URI: | https://elib.psu.by/handle/123456789/40433 |
| Appears in Collections: | Промышленность. Вып. 50 (120). 2023 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.