Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elib.psu.by/handle/123456789/47389
Название: | Новый метод формирования фторуглеродных покрытий |
Авторы: | Телеш, Е. В. Шевчик, Е. В. Курбако, Е. Г. |
Дата публикации: | 2025 |
Издатель: | Полоцкий государственный университет имени Евфросинии Полоцкой |
Библиографическое описание: | Телеш, Е. В. Новый метод формирования фторуглеродных покрытий / Е. В. Телеш, Е. В. Шевчик, Е. Г. Курбако // Актуальные проблемы физики, электроники и энергетики [Электронный ресурс] : электронный сборник статей II Международной научно-практической конференции, Новополоцк, 14 ноября 2024 г. / Полоцкий государственный университет имени Евфросинии Полоцкой. – Новополоцк, 2025. – С. 183-187. |
Аннотация: | Разработан новый метод синтеза фторуглеродных покрытий с применением прямого осаждения из пучков ионов, формируемых торцевым холловским ускорителем. В качестве рабочих газов использовались метан и фреон C3F8. Измерены вольтамперные характеристики, ток разряда монотонно увеличивался в диапазоне значений анодного напряжения 80–115 В. Дальнейшее повышение напряжения вызвало резкий рост тока разряда. Это можно объяснить ростом концентрации ионов углерода и водорода. Установлено, что энергия ионов в пучке составляла 10–110 эВ и зависела от напряжения на аноде. Оптическая спектроскопия показала, что в плазменном разряде присутствуют линии свечения атомов Н, С, F радикалов и отрицательных ионов CF3. Установлено, что скорость нанесения росла с увеличением тока разряда, анодного напряжения. В тоже время скорость уменьшалась с увеличением парциального давления фреона и температуры подложки. |
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://elib.psu.by/handle/123456789/47389 |
Права доступа: | open access |
Располагается в коллекциях: | Актуальные проблемы физики, электроники и энергетики. 2024 |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
183-187.pdf | 887.98 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.