Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.psu.by/handle/123456789/26665| Title: | Повышение достоверности отбраковки больших интегральных схем со скрытыми дефектами методом понижения питающего напряжения |
| Authors: | Белоус, А. И. Емельянов, В. А. Сякерский, В. С. |
| Issue Date: | 2006 |
| Publisher: | Полоцкий государственный университет |
| Citation: | Вестник Полоцкого государственного университета. Серия C, Фундаментальные науки. - 2006. - № 10. - C. 117-120. |
| Abstract: | Разработанный метод отбраковки микросхем, содержащих скрытые дефекты, в сравнении с известными позволяет существенно повысить достоверность отбраковки действительно ненадежных микросхем. |
| Keywords: | Государственный рубрикатор НТИ - ВИНИТИ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| URI: | https://elib.psu.by/handle/123456789/26665 |
| metadata.dc.rights: | open access |
| Appears in Collections: | 2006, № 10 |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 117-120.pdf | 242.65 kB | Adobe PDF |  View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.