Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.psu.by/handle/123456789/36442| Title: | Создание алгоритма для определения размеров и плотности дефектов с использованием технологии компьютерного зрения |
| Authors: | Ольховская, И. М. |
| Issue Date: | 2022 |
| Publisher: | Полоцкий государственный университет имени Евфросинии Полоцкой |
| Citation: | Ольховская, И. М. Создание алгоритма для определения размеров и плотности дефектов с использованием технологии компьютерного зрения / И. М. Ольховская // Электронный сборник трудов молодых специалистов Полоцкого государственного университета имени Евфросинии Полоцкой / ред. кол.: Ю. Я. Романовский (пред.) [и др.]. - Новополоцк : Полоцкий государственный университет имени Евфросинии Полоцкой, 2022. - Вып. 45 (115): Промышленность. – С. 58-60. |
| Abstract: | Представлен алгоритм обработки изображений поверхности полупроводника, содержащей выявленные травлением дефекты, позволяет повысить достоверность и объективность обработки визуальной информации при определении количества и плотности дефектов на образце. Применение настоящего алгоритма может способствовать как получению значимых научных результатов в области материаловедения полупроводников, так и расширению возможностей промышленной дефектоскопии, позволяя отслеживать качество изделий электронной промышленности не только на конечном этапе, но и непосредственно во время производственного процесса. |
| URI: | https://elib.psu.by/handle/123456789/36442 |
| Appears in Collections: | Промышленность. Вып. 45 (115). 2022 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.