Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elib.psu.by/handle/123456789/36442| Название: | Создание алгоритма для определения размеров и плотности дефектов с использованием технологии компьютерного зрения |
| Авторы: | Ольховская, И. М. |
| Дата публикации: | 2022 |
| Издатель: | Полоцкий государственный университет имени Евфросинии Полоцкой |
| Библиографическое описание: | Ольховская, И. М. Создание алгоритма для определения размеров и плотности дефектов с использованием технологии компьютерного зрения / И. М. Ольховская // Электронный сборник трудов молодых специалистов Полоцкого государственного университета имени Евфросинии Полоцкой / ред. кол.: Ю. Я. Романовский (пред.) [и др.]. - Новополоцк : Полоцкий государственный университет имени Евфросинии Полоцкой, 2022. - Вып. 45 (115): Промышленность. – С. 58-60. |
| Аннотация: | Представлен алгоритм обработки изображений поверхности полупроводника, содержащей выявленные травлением дефекты, позволяет повысить достоверность и объективность обработки визуальной информации при определении количества и плотности дефектов на образце. Применение настоящего алгоритма может способствовать как получению значимых научных результатов в области материаловедения полупроводников, так и расширению возможностей промышленной дефектоскопии, позволяя отслеживать качество изделий электронной промышленности не только на конечном этапе, но и непосредственно во время производственного процесса. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://elib.psu.by/handle/123456789/36442 |
| Располагается в коллекциях: | Промышленность. Вып. 45 (115). 2022 |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|
| 58-60.pdf | 193.31 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.