Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.psu.by/handle/123456789/36442
Title: Создание алгоритма для определения размеров и плотности дефектов с использованием технологии компьютерного зрения
Authors: Ольховская, И. М.
Issue Date: 2022
Publisher: Полоцкий государственный университет имени Евфросинии Полоцкой
Citation: Ольховская, И. М. Создание алгоритма для определения размеров и плотности дефектов с использованием технологии компьютерного зрения / И. М. Ольховская // Электронный сборник трудов молодых специалистов Полоцкого государственного университета имени Евфросинии Полоцкой / ред. кол.: Ю. Я. Романовский (пред.) [и др.]. - Новополоцк : Полоцкий государственный университет имени Евфросинии Полоцкой, 2022. - Вып. 45 (115): Промышленность. – С. 58-60.
Abstract: Представлен алгоритм обработки изображений поверхности полупроводника, содержащей выявленные травлением дефекты, позволяет повысить достоверность и объективность обработки визуальной информации при определении количества и плотности дефектов на образце. Применение настоящего алгоритма может способствовать как получению значимых научных результатов в области материаловедения полупроводников, так и расширению возможностей промышленной дефектоскопии, позволяя отслеживать качество изделий электронной промышленности не только на конечном этапе, но и непосредственно во время производственного процесса.
URI: https://elib.psu.by/handle/123456789/36442
Appears in Collections:Промышленность. Вып. 45 (115). 2022

Files in This Item:
File SizeFormat 
58-60.pdf193.31 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.